雙光路設計提升重復性精度至dE*ab≤0.005
雙光路設計在測量樣品信號的同時監測光源能量波動,在測量時減少干擾,獲得更高的測量穩定性,將儀器測量重復性指標提高至dE*ab≤0.005。保證了儀器,測量速度、準確性、穩定性和臺間差一致性高標準。相關技術受到中國發明專利和美國發明專利保護。
差分光譜引擎全面提升測量表現
DS-36D系列分光測色儀傳感器進光量比上一代提升50%,光譜分辨率提升30%,信噪比更高,重復性、臺間差、示值表現更優秀,與基準級儀器數據保持高度一致,儀器臺間差可達0.08,重復性可達0.005。相關技術受到中國發明專利保護。
創新的納米級分辨率光柵分光技術
創新是彩譜的靈魂。歷經近10年的潛心研究,采用創新的MEMS工藝制作的光柵結合陣列傳感器,在納米級光譜分辨率基礎上讓色彩測量更精準,再一次引領了行業創新方向,極大的提升了產品的技術表現。相關技術受到中國發明專利保護。
高精度自動校準技術
先進的自動校準技術大幅改善儀器長期重復性。恒溫條件下,第1天與第30天的dE*ab依然可達0.01;0℃-40℃任意溫度變化,dE*ab 可達0.1以內。
自研熒光校準技術
自動調節UV強度,測熒光材料時,保證儀器數值與基準級數值高度一致。
BCRA綠板波長校準
采用基準級BCRA綠板自動進行波長準確性校正,確保儀器始終如一。
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